Detektion von Fehlstellen und Textur
Bei der Produktion von Bauteilen oder Bandware kommt es nicht selten zu Oberflächendefekten – zum Beispiel durch den Verschleiß von Werkzeugen. Bereits minimale Oberflächendefekte beeinträchtigen die Funktion der Produkte oder führen zu Problemen bei der weiteren Verarbeitung. Fraunhofer IPM entwickelt optische Systeme, die die Qualität technischer Oberflächen prüfen. Die bildgebenden Inspektionssysteme messen mit Genauigkeiten bis in den Mikrometerbereich und sind flexibel einsetzbar, je nach Bedarf auch in der Produktionslinie. Messverfahren, optischer Aufbau und Beleuchtung werden entsprechend der Messaufgabe gewählt. Die Bildverarbeitung erfolgt in der Regel in Echtzeit. Bei der Auswertung der Daten setzen wir auf speziell angepasste Auswertesoftware und nutzen dazu u. a. auch leistungsfähige KI-basierte Methoden wie zum Beispiel Deep Learning.
Einzelbauteile und Bandwaren
Unsere Systeme prüfen die Oberfläche unterschiedlicher Produktklassen – vom komplex geformten 3D-Bauteil bis zum Feindraht. Für die Defekterkennung und Texturanalyse kommen verschiedene Technologien wie zum Beispiel Hell- und Dunkelfeld-Bildgebung, gepulste LED-Beleuchtung oder Pixel-Shifting-Verfahren zum Einsatz. Für die automatisierte optische Inspektion (AOI) von Massenbauteilen setzen wir auf die 100-Prozent-Bauteilprüfung im freien Fall.