F-Camera

Bauteiloberflächen bestimmen die Qualität und Funktionalität von Produkten. Saubere und defektfreie Bauteil- und Produktoberflächen sind ein Qualitätskriterium für viele industrielle Produkte. In vielen Branchen, wie z. B. der Medizintechnik, der Automobil- oder Elektronikindustrie, sind sowohl partikuläre als auch filmische Verunreinigungen unerwünscht. Sie können Teilschritte des Herstellungsprozesses stören und das Produkt unbrauchbar machen. Denn moderne, hocheffiziente Fügeverfahren, wie z. B. Laserschweißen, Laserlöten oder Kleben, reagieren mitunter sehr empfindlich auf Verschmutzungen, etwa Rückstände von Zieh- oder Trennmitteln. Makellose, rückstandsfreie Oberflächen sind daher in vielen Fällen entscheidend für die Qualität moderner Produkte.

F-Camera – Verunreinigung und Defekte hochaufgelöst detektieren

Die F-Camera misst Verunreinigungen oder Defekte bildgebend und berührungslos im Produktionstakt. Mithilfe von UV-Licht regt das System unerwünschte organische Substanzen zum Fluoreszieren an und detektiert so Rückstände bis zu wenigen Milligramm pro Quadratmeter. Zusätzlich detektiert eine an die Messaufgabe angepasste Hellfeld- oder Dunkelfeld-Bildgebung Fehlstellen wie z. B. Kratzer oder Pindefekte mit einer Auflösung von etwa 20 µm. Die Kombination der verschiedenen Verfahren ermöglicht die Inspektion von Defekten und Verunreinigungen mit einem einzigen System. Die F-Camera liefert sowohl Bilder als auch quantitative Messungen der Form, Position oder Menge von Verunreinigungen und Defekten.  

F-Camera mini – Oberflächenreinheit und Beschichtungen inline prüfen

Die F-Camera mini ermöglicht die sehr empfindliche bildgebende Inline-Prüfung von Bauteiloberflächen. Verunreinigungen oder die Qualität von Beschichtungen detektiert das Prüfsystem quantitativ im Sekundentakt mit einer Auflösung bis in den Mikrometerbereich. Die F-Camera mini eignet sich zur Inspektion gekrümmter Freiformoberflächen sowie spiegelnder oder auch rauer Oberflächen. Dank Fluoreszenz-Messtechnik erkennt das System organische Substanzen auf metallischen Oberflächen besonders sensitiv: Filmische Restverunreinigungen bis hinunter zu wenigen 10 nm Dicke werden zuverlässig detektiert. Die F-Camera mini zeichnet sich durch ihre kompakte Bauweise aus, die eine Integration des Messkopfs in die Linie ermöglicht. Aufgrund sehr kurzer Belichtungszeiten von wenigen Millisekunden können auch Teile in Bewegung oder Bandprozesse mit Geschwindigkeiten bis zu 1 m/s inspiziert werden.

Systemkonzept passend zur Aufgabe

Die Wahl der passenden Technologie ist entscheidend für die Zuverlässigkeit des Messsystems. Die F-Camera ermöglicht die hochauflösende Analyse planer Objekte bis typischerweise Postkartengröße. Für Messungen an Bauteilen mit mehreren Quadratmetern Größe oder mit großem Flächendurchsatz bietet Fraunhofer IPM zusätzlich den F-Scanner an. Durch den Einsatz eines schnellen Laserscanners ermöglicht der F-Scanner zudem die Überprüfung von Bauteilen mit komplexen Geometrien.