Makellos reine, rückstandsfreie Oberflächen sind entscheidend für die Qualität moderner Produkte.
Bauteiloberflächen spielen eine wichtige Rolle für die Qualität und Funktionalität industriell hergestellter Produkte. In vielen Branchen, wie z. B. der Automobil- oder Elektronikindustrie, sind filmische –insbesondere organische – Verunreinigungen unerwünscht. Denn viele Schweiß- und Klebe- bzw. Dichtverfahren reagieren sehr empfindlich auf Verschmutzungen, etwa durch Rückstände von Zieh- oder Trennmitteln, Kühlschmierstoff oder Korrosionsschutz. Sie können diese wichtigen Teilschritte des Herstellungsprozesses stören und das Produkt im ungünstigsten Fall unbrauchbar machen oder zu einem Sicherheitsrisiko führen.
Kritisch sind auch Verunreinigungen durch Partikel. Bereits einzelne Metallspäne auf einem Bauteil können zum Ausfall einer gesamten Baugruppe führen. Und für die Lebensdauer stark beanspruchter Bauteile ist technische Sauberkeit ein bestimmendes Kriterium.
Ein hohes und gleichbleibendes Maß an Sauberkeit ist daher in vielen Fällen entscheidend für die Qualität moderner Produkte.
100-Prozent Reinheitskontrolle: Fluoreszenz-Messsysteme prüfen die die Sauberkeit von Oberflächen lückenlos.
Fluoreszenz-Messsysteme von Fraunhofer IPM überwachen und dokumentieren die Oberflächenreinheit von Bauteilen – im QS-Labor, in der Werkshalle oder direkt in der Produktions- oder Reinigungsanlage. Violette oder ultraviolette Laserstrahlung regt dabei die Fluoreszenz organischer Rückstände wie Schmierstoffe, Korrosionschutzöle, Trennmittel, Flussmittel und Fingerabdrücke an. Die Nachweisgrenze liegt für die meisten organischen Spezies im Bereich von 1 bis 10 Milligramm pro Quadratmeter, was einer Schichtdicke von nur wenigen Nanometern entspricht.
Die Fluoreszenz-Messsysteme von Fraunhofer IPM minimieren Ressourcen und Ausschuss, reduzieren Ausfallzeiten von Anlagen und maximieren Qualität und Lebensdauer von Bauteilen und Systemen. Damit ebnen sie den Weg zu nachhaltigeren, datenbasierten Reinigungs- und Beschichtungsprozessen.