Inline-Mikroskopie

Fraunhofer IPM entwickelt Mikroskopie-Systeme für spezielle Messaufgaben. Die vollautomatischen Systeme messen schnell und präzise und werden zur Inline-Kontrolle in Produktionsprozessen genutzt. Unsere Systeme sind immer dort gefragt, wo messtechnische Standardlösungen nicht ausreichen: beispielsweise für die schnelle Texturprüfung und Inspektion großer, planer Flächen auf mikrometergroße Defekte und Verunreinigungen.

Unsere Mikrokopie-Systeme prüfen mikrometergenaue Passungen an Bauteilen mit komplexer Geometrie im Sekundentakt. Auch für die vollautomatische und schnelle Oberflächenprüfung von Endlosmaterialien, z. B. technischen Bändern, wurden Spezialmikroskope entwickelt.

Inline-fähige Multi-Kamerasysteme für Spezialanwendungen

Unser Team verfügt über Know-how in allen gängigen Mikroskopie-Verfahren sowie der optischen Simulation und Konstruktion optischer Systeme. Für Messaufgaben, die sich mit kommerziell erhältlichen Mikroskopen nicht lösen lassen, entwickeln wir eigene Mikroskopie-Systeme. Häufig werden dabei verschiedene bildgebende Sensoren zu einem Multi-Kamerasystem zusammengeführt, um die Messaufgabe vollständig zu lösen. Dazu optimieren wir Beleuchtung und Optik, mechanische und elektrische Schnittstellen sowie die Software mit Blick auf die besonderen Anforderungen unserer Kundschaft. So entstehen inline-fähige Systeme, die den besonderen Umgebungsbedingungen gerecht werden.

Schnelle Auswertung großer Datenmengen

Fraunhofer IPM verfügt über eigens entwickelte Softwarepakete zur Dateninterpretation und Ablaufsteuerung mit grafischer Benutzeroberfläche und gängigen Kommunikationsschnittstellen. Die anspruchsvollen Bildauswertungsalgorithmen, mit denen Textur und mikroskopische Strukturen in Echtzeit analysiert werden können, werden beständig weiterentwickelt. Unsere Auswertealgorithmen ermöglichen beispielsweise die Erkennung und Klassifizierung von Partikeln, die Beurteilung der Textur von Oberflächen oder die Chip-Inspektion. Die Algorithmen laufen bei Bedarf auf modernen Grafikkarten, um die umfangreichen Bilddaten ohne Verzögerung im Produktionsablauf auszuwerten. Wo sinnvoll, basieren die Algorithmen auf Verfahren des maschinellen Lernens.

Anwendungen »Inline-Mikroskopie«

 

Anwendungen

Oberflächenprüfung