Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM
Fraunhofer IPM verfügt über eine umfangreiche Ausstattung und zahlreiche Methoden zur Analyse entwickelter, funktionaler Materialien und Oberflächen.
Mikroanalytik
- 3D-Computertomographie (CT)
- Raster-Elektronen-Mikroskop (REM) inkl. Energiedispersivem Röntgenspektroskop (EDX) und Electron Backscatter Diffraction (EBSD)
- Focused Ion Beams (FIB)
- Poliertechnik, Schliffpräparation
Oberflächenstrukturmessung
- Laser-Scanning-Mikroskop
- Profilometer